二次イオン質量分析計 http://pmlgw.misasa.okayama-u.ac.jp/SIMS_J.html SIMSは一次イオンビーム（加速電圧12.5keV)を試料にぶつけ，試料表面からたたき出されイオン化した元素を，再び加速(加速電圧4.5keV) することによって二次イオンビームを生成します…

男の人は、部屋に女の人がいる場合に空調設定の温度に注意しましょうね。